Vulnerability analysis and improvement of RFID grouping-proof protocols

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IMSS International Conference on Future Manufacturing Engineering (2014 : Hongkong) Advances in future manufacturing engineering
1. Verfasser: Wei, X. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Shi, Z. W. (VerfasserIn), Hao, Y. L. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2015
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Beschreibung
ISBN:9781138028173