Elements of electromigration electromigration in 3D IC technology

In this invaluable resource for graduate students and practicing professionals, Tu and Liu provide a comprehensive account of electromigration and give a practical guide on how to manage its effects in microelectronic devices, especially newer devices that make use of 3D architectures.

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Tu, King-Ning (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Liu, Yingxia (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Boca Raton, London, New York CRC Press 2024
Ausgabe:	First edition
Schlagworte:	Nanoelectronics
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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