A Novel Multivariate Ranking Algorithm for Wafer Map Prioritization to Detect Systematic Semiconductor Yield Loss

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IISE Annual Conference and Expo (2023 : New Orleans, La.) IISE Annual Conference and Expo 2023 ; Volume 1 of 2
1. Verfasser:	Tamilarasan, K. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Agarwal, A. (VerfasserIn), Won, D. (VerfasserIn), Yoon, S. (VerfasserIn)
Pages:	2023
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2023
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Beschreibung
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