MEASUREMENT OF POSITION DEPENDENCE OF SPECTRAL DISTRIBUTION IN PRIMARY X-RAY BEAM OF CT SYSTEM USING COMPTON SPECTROSCOPY

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Matsumoto, M. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Maeda, K. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2005
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