Synthesis of the Algorithm for Determining the Film Thickness Based on the Obtained Data of the White Light Interferogram

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International Symposium on Engineering and Manufacturing (2021 : Kiew) Advances in computer science for engineering and manufacturing
1. Verfasser:	Kryvenchuk, Yurii (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Zakharchuk, Maryana (VerfasserIn), Sencovych, Olha (VerfasserIn), Malynovska, Yulia (VerfasserIn), Topylko, Nataliia (VerfasserIn), Novytskyi, Yurii (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2022
Schlagworte:
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