Envelope Spectrum Analysis of Noisy Signal with Spectral Kurtosis to Diagnose Bearing Defect

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International Conference on Recent Advances in Design, Materials and Manufacturing (2020 : Gwalior, India) Recent trends in design, materials and manufacturing
1. Verfasser:	Tomar, Arvind Singh (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Jayaswal, Pratesh (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2022
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