OPTIMISATION OF THE GATE VOLTAGE IN SIC MOSFETS: EFFICIENCY VS RELIABILITY

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International Conference on Power Electronics, Machines and Drives (10. : 2020 : Online) 10th IET International Conference on Power Electronics, Machines and Drives (PEMD 2020) ; Volume 1 of 2
1. Verfasser:	Gonzalez, Jose Ortiz (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Wu, Ruizhu (VerfasserIn), Wu, Haimeng (VerfasserIn), Wang, Xiang (VerfasserIn), Pickert, Volker (VerfasserIn), Mawby, Philip (VerfasserIn), Alatise, Olayiwola (VerfasserIn)
Pages:	10
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2021
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