Partisan patent examiners? exploring the link between the political ideology of patent examiners and patent office outcomes

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Research policy
1. Verfasser: Raffiee, Joseph (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Teodoridis, Florenta (VerfasserIn), Fehder, Daniel (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2023
Schlagworte:
Patents > Patent examiners > Political ideology > Innovation > Aufsatz in Zeitschrift
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Beschreibung
ISSN:0048-7333