Analysis of the structure of thin amorphizing layers of the Fe-Si-Cu-Mg-O system

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International Conference on Mechanics, Resource and Diagnostics of Materials and Structures (14. : 2020 : Jekaterinburg) Mechanics, resource and diagnostics of materials and structures (MRDMS-2020)
1. Verfasser:	Nikul’chenkov, N. N. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Loginov, A. B. (VerfasserIn), Danilov, S. V. (VerfasserIn), Loginov, B. A. (VerfasserIn)
Pages:	2020
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
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