Untersuchungen belasteter Risse mit dem Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskop

Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss. : 1994

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Göken, Mathias (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI-Verl. 1995
Schriftenreihe:Fortschritt-Berichte VDI Reihe 18, Mechanik/Bruchmechanik 175
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Beschreibung
Zusammenfassung:Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss. : 1994
Beschreibung:Literaturverz. S. 103 - 115
Beschreibung:VIII, 115 S
Ill., graph. Darst
ISBN:3183175185
3-18-317518-5