I-GEO SENSING FRACTURE DIAGNOSTIC I-GSFD FOR FAST PROCESSING OF THE SMART MICROCHIP PROPPANTS DATA

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	SPE Annual Technical Conference and Exhibition (2021 : Dubai, Stadt; Online) SPE Annual Technical Conference and Exhibition 2021 ; Volume 1 of 10
1. Verfasser:	Pham, Vuong Van (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Dahaghi, Amirmasoud Kalantari (VerfasserIn), Negahban, Shahin (VerfasserIn), Fincham, William (VerfasserIn), Babakhani, Aydin (VerfasserIn)
Pages:	2021
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2021
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