DETC2021-67205 Approximate Real-Time Force Spectroscopy Within Amplitude-Modulation Atomic Force Microscopy Topographical Imaging Using Few Harmonics and Fourier Methods

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International Conference on Micro- and Nanosystems (15. : 2021 : Online) Proceedings of the ASME 2021 International Design Engineering Technical Conferences and Computers and Information in Engineering Conference (IDETC-CIE2021) ; volume 11: 15th International Conference on Micro- and Nanosystems (MNS)
1. Verfasser:	Uluutku, Berkin (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Solares, Santiago D. (VerfasserIn)
Pages:	2021
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2021
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!