Dualray: Dual-View X-ray Security Inspection Benchmark and Fusion Detection Framework

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:PRCV (5. : 2022 : Shenzhen) Pattern recognition and computer vision ; Part 4
1. Verfasser: Wu, Modi (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Yi, Feifan (VerfasserIn), Zhang, Haigang (VerfasserIn), Ouyang, Xinyu (VerfasserIn), Yang, Jinfeng (VerfasserIn)
Pages:4
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2022
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Beschreibung
ISBN:9783031189159