JRC2020-8031 Toward Railway Automated Defect Detection From Onboard Data Using Deep Learning

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ASME Joint Rail Conference (2020 : Saint Louis, Mo.) Proceedings of the ASME Joint Rail Conference - 2020
1. Verfasser:	Afzalan, Milad (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Jazizadeh, Farrokh (VerfasserIn), Ahmadian, Mehdi (VerfasserIn)
Pages:	2020
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
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