Struktur komplexer Zentren in Silizium

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	Max-Planck-Institut für Festkörperforschung (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Weber, Jörg (BerichterstatterIn), Bohne, D. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Stuttgart MPI für Festkörperforschung 1994
Schlagworte:	Forschungsbericht > Defekt > Silicium > Halbleiter > Gitterbaufehler
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Beschreibung:	Förderkennzeichen: BMFT FE 01 M 2786; NT 2786 9
Beschreibung:	36 Bl graph. Darst