The influence of ionizing radiation intensity on the surface states in MOS-structures

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International Conference "Physics of Dielectrics" (15. : 2020 : Sankt Petersburg) International Conference "Physics of Dielectrics"
1. Verfasser:	Aleksandrov, Oleg (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
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