Automation of Standard Cell Characterization in 180nm CMOS process using Open Command Environment for Analysis

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International Conference on Systems, Automatic Control and Measurements (14. : 2018 : Niš) XIV International Conference on Systems, Automatic Control and Measurements, SAUM 2018
1. Verfasser:	Mirković, Dejan (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Mirković, Milena Stanojlović (VerfasserIn)
Pages:	2018
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2018
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!