SDPO: An Approach Towards Software Defect Prediction Using Ontology Driven Intelligence
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | ICEEE (2022 : Greater Noida) Innovations in electrical and electronic engineering ; Volume 2 |
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Pages: | 2 |
Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
2022
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