SDPO: An Approach Towards Software Defect Prediction Using Ontology Driven Intelligence

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ICEEE (2022 : Greater Noida) Innovations in electrical and electronic engineering ; Volume 2
1. Verfasser:	Manoj, N. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Deepak, Gerard (VerfasserIn)
Pages:	2
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2022
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