Exploring Novel Techniques to Detect Aberration from Metal Surfaces in Automobile Industries

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IC3S (2020 : Bhubaneswar) Proceedings of International Conference on Communication, Circuits, and Systems
1. Verfasser: Mohapatra, Debaniranjan (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Chakraborty, Amit (VerfasserIn), Shaw, Ankit Kumar (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2021
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Beschreibung
ISBN:9789813348653