Assessment and application of defect characterization via lifetime spectroscopy in high purity c-Si

Dissertation, Universität Konstanz, 2022

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Post, Regina (VerfasserIn)
Körperschaften:	Universität Konstanz (Grad-verleihende Institution), Fraunhofer-Institut für Solare Energiesysteme (Herausgebendes Organ), Fraunhofer IRB-Verlag (Verlag)
Weitere Verfasser:	Hahn, Giso (AkademischeR BetreuerIn), Glunz, Stefan (AkademischeR BetreuerIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Stuttgart Fraunhofer Verlag 2023
Schriftenreihe:	Solare Energie- und Systemforschung/Solar energy and systems research
Schlagworte:	Hochschulschrift > Siliciumhalbleiter > Dotierung > Gallium > Defektelektron > Lebensdauerspektroskopie > Werkstofffehler > Gitterbaufehler
Online Zugang:	Inhaltstext Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Dissertation, Universität Konstanz, 2022
Beschreibung:	Literaturverzeichnis: Seite 163-172
Beschreibung:	172 Seiten Illustrationen, Diagramme 21 cm x 14.8 cm
ISBN:	9783839619179 978-3-8396-1917-9 3839619173 3-8396-1917-3