Semiconductor scanistor application for synchrotron light and electron beam parameters measurement

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Proceedings of the Workshop on Advanced Beam Instrumentation ; 1
1. Verfasser:	Toumanian, A. R. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Vagarshakian, V. A. (VerfasserIn), Nickogossian, V. Ts. (VerfasserIn)
Pages:	1
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1991
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