Characterization of the electronic and geometric structures of aluminas using x-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy, electron energy loss spectroscopy, and low energy electron diffraction

Ithaca, Cornell Univ., Ph. D. Thesis : 1988

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Kao, Chi-Chang (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Ann Arbor University Microfilms Int./UMI 1989
Ausgabe:	[Mikrofiches-Ausg.]
Schlagworte:	Hochschulschrift
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