Thickness Estimation of TiO2-Based Nanotubes Using X-Ray Diffraction Techniques

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Brazilian Conference on Materials Science and Engineering (23. : 2018 : Foz do Iguaçu) 23rd Brazilian Conference on Materials Science and Engineering
1. Verfasser: Faria, M. E. M. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Leite, M. M. (VerfasserIn), Ichikawa, R. U. (VerfasserIn), Vichi, F. M. (VerfasserIn), Turrillas, X. (VerfasserIn), Martinez, L. G. (VerfasserIn)
Pages:23
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2020
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Beschreibung
ISBN:9783035717464