Special section on radiation effects and fault tolerance in electronic devices, circuits, and systems

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Krstic, M. (HerausgeberIn), Carvajal, M. (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New Jersey, London, Singapore, Bejing, Shanghai, Hong Kong, Taipei, Chennai, Tokyo World Scientific 2022
Schriftenreihe:Journal of circuits, systems and computers volume 31, number 18 (December 2022)
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Beschreibung
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:circa 374 Seiten
Illustrationen, Diagramme