Low level radiation testing of micro-electronic components

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Farren, J. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Stephen, J. H. (VerfasserIn), Mapper, D. (VerfasserIn), Sanderson, T. K. (VerfasserIn), Hardman, M. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Harwell, Oxfordshire Instrumentation & Applied Physics Division, AERE 1984-
Schriftenreihe:	AERE-R
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