Tiefenabhängige Messung von Diffusionslängen mit dem Photostrom-Meßverfahren Elymat

Zugl.: Nürnberg, Erlangen, Univ., Diss. : 1995

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Falter, Thomas (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Aachen Shaker 1995
Ausgabe:	Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:	Erlanger Berichte Mikroelektronik 1/95
Schlagworte:	Hochschulschrift > Siliciumbauelement > Minoritätsträger > Diffusion > Tiefenverteilung
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