Tiefenabhängige Messung von Diffusionslängen mit dem Photostrom-Meßverfahren Elymat

Zugl.: Nürnberg, Erlangen, Univ., Diss. : 1995

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Falter, Thomas (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Aachen Shaker 1995
Ausgabe:Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:Erlanger Berichte Mikroelektronik 1/95
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Beschreibung
Zusammenfassung:Zugl.: Nürnberg, Erlangen, Univ., Diss. : 1995
Beschreibung:Literaturverz. S. 95 - 96
Beschreibung:III, 99 S
graph. Darst
21 cm
ISBN:3826506588
3-8265-0658-8