Elementary Analysis on the Testing Method of the Contact Fixity of the Crimp-Oriented Electrical Connector

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ICMIR (2020 : Online) Advancements in mechatronics and intelligent robotics
1. Verfasser:	Shi, Haijian (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Ding, Penghui (VerfasserIn), Chang, Kangwei (VerfasserIn), Wang, Menglong (VerfasserIn), Shi, Jianyon (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2021
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