Nanoscale Probing of Field-Driven Ion Migration in TaOx for Neuromorphic Memristor Applications

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Symposium on Semiconductor Process Integration (12. : 2021 : Online) Semiconductor Process Integration 12
1. Verfasser:	Tsurumaki-Fukuchi, A. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Katase, T. (VerfasserIn), Ohta, H. (VerfasserIn), Arita, M. (VerfasserIn), Takahashi, Y. (VerfasserIn)
Pages:	12
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2021
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