DETC2020-22146 Sequential Sampling Based Reliability Analysis for High Dimensional Rare Events With Confidence Intervals

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ASME International Design Engineering Technical Conferences & Computers and Information in Engineering Conference (2020 : Online) Proceedings of the ASME International Design Engineering Technical Conferences & Computers and Information in Engineering Conference - 2020 ; Volume 11, B
1. Verfasser:	Xu, Yanwen (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Wang, Pingfeng (VerfasserIn)
Pages:	2020
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
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