Application of Advanced Optic Measurement Technology DISAR in Engineering Modeling and Simulation

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:International Conference on Optoelectronics and Measurement (2. : 2019 : Hangzhou) Proceedings of 2019 International Conference on Optoelectronics and Measurement
1. Verfasser: Wei, Lan (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Zheng, Miao (VerfasserIn)
Pages:2019
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2021
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Beschreibung
ISBN:9789813341098
9813341092