Surface Defect Detection of Medium and Thick Plates Based on MASK-RCNN

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ICAIS (8. : 2022 : Qinghai) Advances in artificial intelligence and security ; Part 1
1. Verfasser:	Liu, Jian (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Liu, Tao (VerfasserIn), Rong, Yu (VerfasserIn), Cao, Rui (VerfasserIn), Tian, Lixin (VerfasserIn)
Pages:	1
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2022
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