A Critical Survey on Machine Learning Paradigms to Forecast Software Defects by Using Testing Parameters

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ICCCE (4. : 2021 : Hyderabad) ICCCE 2021 ; Volume 2
1. Verfasser:	Prasanth, Y. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Satya Sai Vinuthna, T. (VerfasserIn), Komali, P. (VerfasserIn), Kavya, K. (VerfasserIn), Aneera, N. (VerfasserIn)
Pages:	2021
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2022
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!