A Superior Method of Eliminating B Mode Dielectric Breakdown Failure in Gate Oxides Utilizing a using Charging Phenomenon

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Handōtai, Shūseki Kairo Gijutsu Shinpojiumu (43. : 1992 : Tokio) Handōtai, Shūseki Kairo Gijutsu Dai 43kai Shinpojiumu
1. Verfasser:	Tominaga, Y. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Nara, A. (VerfasserIn), Ushikoshi, T. (VerfasserIn), Ajioka, T. (VerfasserIn), Kitabayashi, H. (VerfasserIn)
Pages:	43
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1992
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