Capacitance-voltage measurements for determining impurity profiles in semiconductors
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | eng |
| Veröffentlicht: |
Harwell, Berkshire
Electronics and Applied Physics Division, Atomic Energy Research Establishment
1972
|
| Schriftenreihe: | AERE-R
7037 United Kingdom Atomic Energy Authority Research Group report |
| Schlagworte: | |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Tag hinzufügen | Beschreibung: | Literaturverzeichnis: Seite 4-5 |
|---|---|
| Beschreibung: | 9 Seiten, 7 ungezählte Seiten Illustrationen |