Forecasting forward patent citations comparison of citation-lag distribution, tobit regression, and deep learning approaches

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Institute of Electrical and Electronics Engineers IEEE transactions on engineering management
1. Verfasser: Noh, Heeyong (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Lee, Sungjoo (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2022
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