Radiation Effect of MOS Device (Total Dose Effect)

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Symposium on Reliability and Maintainability (14. : 1984 : Tokio) 14th Symposium on Reliability and Maintainability
1. Verfasser:	Shibuya, Mikio (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Naruse, Kiyomi (VerfasserIn), Yoshida, Masayuki (VerfasserIn), Hatano, Hiroshi (VerfasserIn)
Pages:	14
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1984
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Beschreibung
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