Real Time X-Ray Analysis of Void Formation and Dynamics in QFN Devices During Reflow

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:SMTA International Conference (2019 : Rosemont, Ill.) SMTA International Conference 2019 ; Volume 1 of 2
1. Verfasser: Krastev, Evstatin (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Kullar, Sandeep (VerfasserIn), Rand, Christopher (VerfasserIn), Dage, Nordson (VerfasserIn)
Pages:2019
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2020
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Beschreibung
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