User's Development of an IC Tester and Results of an Online LSI Fault Analysis

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Symposium on Reliability and Maintainability (16. : 1986 : Tokio) 16th Symposium on Reliability and Maintainability
1. Verfasser:	Keta, Tetsushi (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Toyoshima, Toshio (VerfasserIn), Miyamoto, Shuji (VerfasserIn), Iwasaki, Yoshiki (VerfasserIn), Miyagawa, Masamitsu (VerfasserIn)
Pages:	16
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1986
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Beschreibung
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