MBIST Driven SRAM Failure Analysis Using Laser Voltage Imaging and Laser Voltage Probing

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International Symposium for Testing and Failure Analysis (45. : 2019 : Portland, Or.) ISTFA 2019
1. Verfasser:	Yang, Jessica (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Rengaraj, Omprakash (VerfasserIn), Gupta, Puneet (VerfasserIn), Schlangen, Rudolf (VerfasserIn)
Pages:	2019
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2019
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