Dynamic Photon Emission on FinFET Devices Through Novel Scan Test Approaches

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International Symposium for Testing and Failure Analysis (45. : 2019 : Portland, Or.) ISTFA 2019
1. Verfasser:	Gopinath, Ranganathan (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Krishnan, Ravikumar Venkat (VerfasserIn), Winson, Lua (VerfasserIn), Angeline, Phoa (VerfasserIn), Jie, Jin (VerfasserIn)
Pages:	2019
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2019
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