ToF-SIMS, Time-of-Flight Secondary lon Mass Spectroscopy for Counterfeit Detection of Electrical, Electronic, and Electromechanical (EEE) Parts

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International Symposium for Testing and Failure Analysis (45. : 2019 : Portland, Or.) ISTFA 2019
1. Verfasser:	Simard-Normandin, M. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Banks, C. (VerfasserIn), Havercroft, N. (VerfasserIn), Clark, P. (VerfasserIn), Tallarek, E. (VerfasserIn)
Pages:	2019
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2019
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!