Advanced 3D Localization in Lock-in Themorgraphy Based on the Analysis of the TRTR (Time-Resolved Thermal Response) Received Upon Arbitrary Waveform Stimulation

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International Symposium for Testing and Failure Analysis (45. : 2019 : Portland, Or.) ISTFA 2019
1. Verfasser:	Brand, Sebastian (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Kögel, Michael (VerfasserIn), Grosse, Christian (VerfasserIn), Altmann, Frank (VerfasserIn), Lai, Brian (VerfasserIn), Wang, Qingging (VerfasserIn), Vickers, James (VerfasserIn), Tier, David (VerfasserIn), Zee, Bernice (VerfasserIn), Wen, Qiu (VerfasserIn)
Pages:	2019
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2019
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