Input pattern classification for transistor level testing of BiCMOS circuits

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Menon, Sankaran M. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Jayasumana, Anura P. (VerfasserIn), Malaiya, Yashwant K. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Ft. Collins, Colo. Colorado State Univ. 1994
Schriftenreihe:	Technical report / Department of Computer Science, Colorado State University CS-TR 94-106
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