Fault modeling and design for testability of Emitter Coupled Logic (ECL)

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Menon, Sankaran M. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Malaiya, Yashwant K. (VerfasserIn), Jayasumana, Anura P. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Ft. Collins, Colo. Colorado State Univ. 1994
Schriftenreihe:	Technical report / Department of Computer Science, Colorado State University CS-TR 94-108
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