Entwicklung eines prozeßrechnergestützten Raster-Tunnelmikroskops und Morphologie-Bestimmung des Halbleiters Siliziumkarbid

München, Univ. der Bundeswehr, Diss., 1994

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Heuell, Peter (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: 1994
Schlagworte:
Hochschulschrift > Siliciumcarbid > Kristallmorphologie > Rastertunnelmikroskop
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Beschreibung
Zusammenfassung:München, Univ. der Bundeswehr, Diss., 1994
Beschreibung:112 S
Ill., graph. Darst
21 cm