μSBS: Static Binary Sanitization of Bare-metal Embedded Devices for Fault Observability

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	RAID (23. : 2020 : Online) 23rd International Symposium on Research in Attacks, Intrusions and Defenses (RAID 2020)
1. Verfasser:	Salehi, Majid (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Hughes, Danny (VerfasserIn), Crispo, Bruno (VerfasserIn)
Pages:	23
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2021
Schlagworte:
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