Evaluation of Gate Oxide Lifetime under Constant-Voltage Stress by Charge-to-breakdown

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Handōtai-Shūseki-Kairo-Gijutsu-Shinpojiumu (48 : 1995 : Tokio) 48. Handōtai Shuseki Kairo Gijutsu Shinpojiumu Kōen Ronbunshū
1. Verfasser:	Eguchi, K. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Uraoka, Y. (VerfasserIn)
Pages:	48
Format:	UnknownFormat
Sprache:	jpn
Veröffentlicht:	1995
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