Soft Error Rate Analysis Model (SERAM) for Dynamic NMOS RAMs

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Conference on Solid State Devices (13 : 1981 : Tokio) Proceedings of the 13th Conference on Solid State Devices
1. Verfasser:	AOKI, M. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	TOYABE, T. (VerfasserIn), SHINODA, T. (VerfasserIn), MASUHARA, T. (VerfasserIn), ASAI, S. (VerfasserIn), KAWAMOTO, H. (VerfasserIn), MITSUSADA, K. (VerfasserIn)
Pages:	13
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1982
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Beschreibung
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